◆遠距離・近距離測定に対応
◆検出物体の表面粗さの影響を無視できる
◆サポートラインスキャン
◆電気特性検出をサポート
◆測定精度は周囲の光や温度の影響を受けません
◆ 高精度の変位変化
◆ 液面・物質面
◆ 膜の厚さ
◆ コーティングの厚さ
テラヘルツ検出厚さ | レーザー厚さ測定 | 分光共焦点膜厚測定 | |
---|---|---|---|
環境の影響を受ける | 光や温度の影響を受けない | 温度の影響を受けやすい | 温度の影響を受けやすい |
測距範囲 | 遠距離・近距離測定に対応 | 狭い範囲の距離・厚み測定 | 単一点測定のみをサポート |
平面度の影響 | 表面粗さの影響は無視できる | 表面粗さは精度に大きな影響を与えます | 表面粗さは精度に大きな影響を与えます |
ラインスキャン | サポート | サポートしません | サポートしません |
電気的特性の検出 | サポート | サポートしません | サポートしません |