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シリコンウェーハの外観検査
ソーラーシリコンウェーハ外観検査システムは、検出および測定プロセスを完全に自動化し、人間の介入を回避し、効率的で反復性が高く、信頼性の高い検出および測定プロセスを実現します。

ソーラーシリコンウェーハの生産ラインで広く使用されており、生産ラインの生産能力に影響を与えることなく、欠陥のあるソーラーシリコンウェーハがすべて次の生産プロセスに流れ込まないようにします。

Solar silicon wafer visual inspection, silicon wafer appearance defect detection plan - machine vision_ Visual inspection equipment_ 3D Vision_ defect detection

Technical characteristics of solar silicon wafer visual inspection system

High detection accuracy and precise detection of defects

The detection accuracy is as high as 0.02mm, which can detect very fine defects.

There are many types of color sorting, up to 24 types

According to the color difference of silicon wafers, 24 kinds of color difference are classified.